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影響渦流測厚儀測量精度的因素

        根據(jù)國家標準GB/T4957-2003《非磁性金屬基材上非導電涂層厚度測量的渦流法》，以下因素會影響測量精度。
         1. 覆蓋層厚度
        測量不確定度是渦流厚度測量方法所固有的。對于較薄的覆蓋層（例如，小于 25 μm），測量不確定度是一個恒定值，與覆蓋層厚度無關，每次測量至少為 0.5 μm。對于儀器，這種不確定性為 0.5 μm 至 1 μm。對于厚度大于 25 μm 的較厚覆蓋層的厚度的一定比例。對于該儀器，這種不確定性是覆蓋層厚度的 2%。
        對于厚度小于或等于5μm的覆蓋層，厚度值應為多次測量的平均值。
        對于小于3μm的涂層厚度，不能準確測量膜厚值。
         2、母材的導電性
        渦流測厚法的測量值會受到母材導電率的影響。金屬的導電性與其材料成分和熱處理有關。電導率對測量的影響因儀器的制造商和型號而異。本儀器的測量幾乎不受jian金屬電導率的影響。
         3、母材厚度
        每臺儀器都有一個臨界的基體金屬厚度，超過這個厚度，測量值將不受基體厚度增加的影響。這個臨界厚度值取決于儀器探頭系統(tǒng)的工作頻率和基底金屬的導電性。本儀器的臨界厚度值約為0.3~0.4 mm。
        將基底金屬厚度低于臨界厚度的樣品與相同材料和厚度的未涂層材料疊加是不可靠的。
         4.邊緣效果
        渦流測厚儀對樣品表面的不連續(xù)性很敏感。太靠近樣品邊緣的測量結果不可靠。如果必須在小區(qū)域或窄條上進行測量，可以使用與基板形狀相同的無涂層材料重新校準儀器。對于本儀器，當測量面積小于 150 mm2 或樣品寬度小于 12 mm 時，在相應的未涂層材料上重新校準儀器。
         5.曲率
        試樣曲率的變化會影響測量。試樣曲率越小，對測量值的影響越大。對于本儀器，當測量直徑小于 50 毫米的樣品時，儀器應在相同直徑的無涂層材料上重新校準。
         6、表面粗糙度
        母材和覆蓋層的表面粗糙度會影響測量值。可以通過對不同位置的多個測量值進行平均來減少這種影響。如果基體金屬表面粗糙，還應在涂裝前對相應金屬材料上的多處校準儀零位。
         7、探頭與樣品表面緊密接觸
        測厚儀的探頭必須與樣品表面緊密接觸。樣品表面的灰塵和污垢會影響測量值。因此，在測量過程中應保持探頭jian端和樣品表面清潔。
        當疊加兩個或多個已知厚度值的校準箔時，測量值大于校準箔厚度的總和。箔片越厚越硬，這種偏差就越大。原因是箔片的疊加影響了探針與箔片和箔片的緊密接觸。
         8、探頭壓力
        在測量過程中，施加在探頭上的壓力會影響測量值。儀器在探頭內裝有恒壓彈簧，可保證每次測量時探頭對樣品施加的壓力保持不變。
         9. 探頭的垂直度
        溫度變化會影響探頭參數(shù)。因此，儀器應在與操作環(huán)境大致相同的溫度下進行校準。儀器進行了良好的溫度補償，溫度變化對測量值影響不大。